通過特殊的數字化光澤控制方式同時測量SCI和SCE，僅需4秒即可連續測量。與傳統機型不同的是，無需在SCI和SCE模式之間進行頻繁的機械切換，這樣就提高了工作效率。由于在切換模式時測量區域不會變化，因此可提供穩定的測量數據。
包含UV的光源和篩除UV的光源依次發光，可獲取包含UV的光源下的樣本數據和不包含UV的光源下（400nm或420nmUV截止濾光片）的樣本數據。
也可輕松獲取任意光源下的數據（UV調整）。任意光源下僅需測量已知分光反射率數據的標準熒光樣本，即可完成UV校正。UV校正后可獲取相應光源下的樣本數據。由于無需對UV截止濾光片移動引起的嘗試錯誤進行UV調整，大大縮短了測量時間。
添加熒光染料的襯衫
添加了熒光染料的紙張
可進行各種樣本測量
與CM-3600d的數據有兼容性
照明/受光系統與傳統機型CM-3600d一樣，具有數據兼容性，因此原CM-3600d用戶可繼續使用現有數據庫。
電腦控制下精確可靠的臺式儀器
可通過Windows系統軟件加以操作。
測量口徑為 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm
使用10nm波長間隔測量360nm~740nm全范圍波長。采用雙波束方式、雙通道傳感陣列實現高精度和高再現性。
致力于免維修化的高可靠性設計
通過技術革新實現SCI/SCE之間的切換，并將濾光器等部件的移動減至小。在設計和產品校準中引入了ISO9001認證質量管理體系，使產品具有高可靠性和耐用性。
具有3種測量口徑
可根據樣品尺寸選擇適當的測量口徑。
主要用途
各行業的研發和質量管理部門
大學、實驗室、檢查機構
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照明/受光系統 |
反射：d/8（漫射照明，8°方向接收） |
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傳感器 |
硅光二極管陣列（雙列40組） |
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分光方式 |
平面回折光柵 |
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測量波長范圍 |
360nm～740nm |
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測量波長間隔 |
10nm |
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半波寬 |
約10nm |
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反射率測量范圍 |
0～200%；分辨率： 0.01% |
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照明光源 |
脈沖氙燈×4 |
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測量時間 |
約1.5秒（輸出數據為止） |
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小測量間隔 |
普通SCI/SCE模式時4秒（透射測量時3秒，熒光測量時5秒） |
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測量/照明口徑 |
LAV：?25.4mm/?30mm（可更換） |
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重復性 |
白板校正后，以10秒間隔測量白色校正板30次 |
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器間差 |
△E*ab 0.15（LAV/SCI） |
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溫度波動性 |
光譜反射率：±0.10%/℃以內, |
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透射測量規格 |
樣品寬度：133mm，厚度：小于50mm |
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端口 |
USB 1.1 |
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電源 |
AC 100V/240V 50/60Hz |
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操作溫濕度范圍 |
13℃～33℃，相對濕度80%以下（35℃），無凝露 |
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儲存溫濕度范圍 |
0℃～40℃，相對濕度80%以下（35℃），無凝露 |
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尺寸（長×寬×高） |
CM-3600A 244×205×378mm |
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重量 |
CM-3600A 11.5kg |
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